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美國Calmetrics鈀Pd 4uin單鍍層元素標準片

簡要描述:

美國Calmetrics鈀Pd 4uin單鍍層元素標準片,元素標準片又名鍍層標準片,膜厚標準片,測厚儀標準片,鍍層標樣等,是鍍層厚度的標準件,標準片是用來為X射線鍍層測厚儀建立標準化測試檔案的,同時也是檢驗測厚儀測試是否準確的衡量標準樣品。該標準片是美國Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)的,出廠時都附有原廠校驗證書,它可通用于各*的測厚儀。

更新時間:2023-04-24

品牌Calmetrics/美國貨號HXPd/xx
規(guī)格Pd-4微英寸供貨周期現(xiàn)貨
主要用途建立測試標準化檔案,鍍層厚度標準件應用領域環(huán)保,化工,電子

美國Calmetrics鈀Pd 4uin單鍍層元素標準片是美國Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)。

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Calmetrics是美國原廠制作標準片的專業(yè)認證公司,其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標準樣品。美國Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件,提供對標準件的校準服務,公司通過ISO/IEC17025認證。公司提供所有證書符合NIST (National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院)標準或ANSI (American National Standards Institute美國國家標準學會)標準。其生產(chǎn)的標準片質(zhì)量精良,精度高、穩(wěn)定性好。

測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

標準片分單層標準片、雙層標準片、多層標準片,其中單層標準片又可分為單元素標準片、單元素薄片鍍在底材上、純元素底材標準片、合金薄片、合金鍍在底材上等,各種規(guī)格搭配,可根據(jù)客戶個性化需要定制。所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結(jié)構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片,并附有標準片厚度值證書.


美國Calmetrics鈀Pd 4uin單鍍層元素標準片,Calmetrics鍍層標準片適用于各種品牌的X射線測厚儀(涂鍍層厚度測試儀) 應用:適用于Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀(膜厚計)。

美國Calmetrics鈀Pd 4uin單鍍層元素標準片



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