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韓國ISP X射線熒光光譜儀軟件功能簡介
  • 更新日期:2019-07-10      瀏覽次數(shù):2884
    • iEDX-150WT型號光譜儀軟件功能

      1) 軟件應(yīng)用
      - 鍍層測量
      - 線性層測量,如:薄膜測量
      - 鍍層測量
      - 針對合金可同時(shí)進(jìn)行鍍層厚度和元素分析
      - 層測量。
      - 無電鍍鎳測量
      - 吸收模式的應(yīng)用 DIN50987.1/ ISO3497-A2

      - 勵(lì)磁模式的應(yīng)用DIN50987.1/ ISO3497-A1
      - 基本參數(shù)法可以滿足所有應(yīng)用領(lǐng)域的測量

      2) 軟件標(biāo)定
      - 自動(dòng)標(biāo)定曲線進(jìn)行多層分析

      - 使用無標(biāo)樣基本參數(shù)計(jì)算方法

      - 使用標(biāo)樣進(jìn)行多點(diǎn)重復(fù)標(biāo)定

      - 標(biāo)定曲線顯示參數(shù)及自動(dòng)調(diào)整功能

      3) 軟件校正功能:
      - 基點(diǎn)校正(基線本底校正)

      - 多材料基點(diǎn)校正,如:不銹鋼,黃銅,青銅等

      - 密度校正

          4) 軟件測量功能:
          - 快速開始測量

          - 快速測量過程

          - 自動(dòng)測量條件設(shè)定(光管電流,濾光片,ROI)

          5) 自動(dòng)測量功能(軟件平臺)

          - 同模式重復(fù)功能(可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)自動(dòng)檢測)

          - 確認(rèn)測量位置 (具有圖形顯示功能)

          - 測量開始點(diǎn)設(shè)定功能(每個(gè)文件中存儲原始數(shù)據(jù))

          - 測量開始點(diǎn)存儲功能、打印數(shù)據(jù)

          - 旋轉(zhuǎn)校正功能

          - TSP應(yīng)用

          - 行掃描及格柵功能

          6) 光譜測量功能

          - 定性分析功能 (KLM 標(biāo)記方法)

          - 每個(gè)能量/通道元素ROI光標(biāo)

          - 光譜文件下載、刪除、保存、比較功能

          - 光譜比較顯示功能:兩級顯示/疊加顯示/減法

          - 標(biāo)度擴(kuò)充、縮小功能(強(qiáng)度、能量

          7) 數(shù)據(jù)處理功能

          - 監(jiān)測統(tǒng)計(jì)值: 平均值、 標(biāo)準(zhǔn)偏差、 大值。

          - 值、測量范圍,N 編號、 Cp、 Cpk,

          - 獨(dú)立顯示測量結(jié)果。

          - 自動(dòng)優(yōu)化數(shù)值、數(shù)據(jù)控件

          8)其他功能

          - 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境

          - 獨(dú)立操作控制平臺

          - 視頻參數(shù)調(diào)整

          - 儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設(shè)連接

          - Multi-Ray、Smart-Ray自動(dòng)輸出檢測報(bào)告(HTML,Excel

          - 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器、樣本圖片、線等.......

          - 數(shù)據(jù)庫檢查程序

          - 鍍層厚度測量程序保護(hù)

      • 儀器維修和調(diào)整功能

          - 自動(dòng)校準(zhǔn)功能;

          - 優(yōu)化系統(tǒng)取決儀器條件和操作室環(huán)境;

          - 自動(dòng)校準(zhǔn)過程中值增加、偏置量、強(qiáng)度、探測器分辨率,迭代法取決于峰位

            置、 CPS、主X射線強(qiáng)度、輸入電壓、操作環(huán)境。